MMRImedical materials research institute
Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme einer Implantatoberfläche
REM-Aufnahme einer porösen Titanoberfläche
REM-Aufnahme einer strukturierten Implantatoberfläche
Max-Planck-Straße 3 · Berlin-Adlershof
Wissenschaft und Technologie

Wir analysieren Oberflächen,die über den Behandlungserfolgentscheiden

Akkreditierte Prüfverfahren

Elektronen­mikroskopie undElementanalytik nachDIN EN ISO/IEC 17025

Forschung und Industrie

Belastbare Befunde fürHersteller, Klinikenund Wissenschaft

01 — Das Institut

Ein unabhängiges Prüflabor für die Oberflächen von Medizinprodukten

Das MMRI ist ein nach DIN EN ISO/IEC 17025:2018 akkreditiertes Prüflabor für Materialwissenschaften im Wissenschafts- und Technologiepark Berlin-Adlershof.

Unser Schwerpunkt liegt auf der elektronenmikroskopischen und spektroskopischen Charakterisierung von Objektoberflächen — insbesondere von Medizinprodukten wie dentalen Implantaten. Hersteller, Forschungseinrichtungen und Kliniker erhalten dokumentierte Prüfergebnisse auf wissenschaftlichem Niveau.

Geleitet wird das Institut von Dr. Dirk U. Duddeck, der die Analytik von Implantatoberflächen seit vielen Jahren wissenschaftlich prägt. Das MMRI ist Mitglied der Deutschen Gesellschaft für Materialkunde (DGM).

010DIN EN ISO/IEC — Akkreditierung als Prüflabor
020Fassung der zugrunde liegenden Norm
030Analyseverfahren: REM/SEM, EDX/EDS, ToF-SIMS
04µmAuflösungsbereich der Oberflächen­analytik
02 — Analysemethoden

Drei Verfahren, die Oberflächen vollständig beschreiben

Von der hochauflösenden Bildgebung über die Elementanalyse bis zur molekularen Chemie der äußersten Monolagen.

REM-Aufnahme einer OberflächenstrukturMethode A

REM / SEM

Rasterelektronenmikroskopie

Hochauflösende Bildgebung von Oberflächenstrukturen. Topografie, Morphologie und Partikel werden sichtbar, lange bevor ein Lichtmikroskop an seine Grenzen stößt.

  • Topografie und Morphologie
  • Partikeldetektion
  • Dokumentierte Bildserien
Implantat in der Probenkammer des Elektronenmikroskops
03 — Akkreditierung
17025DIN EN ISO/IEC
Fassung 2018

Die Akkreditierung bestätigt die technische Kompetenz und die Zuverlässigkeit unseres Qualitätsmanagements. Jede Prüfung folgt validierten Verfahren — nachvollziehbar, reproduzierbar, unabhängig.

Geltungsbereich: Rasterelektronenmikroskopische (SEM) und energiedispersive röntgenspektroskopische (EDS) Prüfung von Objektoberflächen an Materialproben.

04 — Ablauf

Von der Probe zum Prüfbericht

Anfrage

Sie schildern uns Fragestellung und Probenmaterial — wir empfehlen das geeignete Analyseverfahren.

Probeneingang

Ihre Probe wird dokumentiert erfasst und unter kontrollierten Bedingungen für die Analyse vorbereitet.

Analyse

REM-Bildgebung, EDS-Elementanalyse und bei Bedarf ToF-SIMS — nach validierten Verfahren.

Prüfbericht

Sie erhalten einen vollständig dokumentierten Bericht mit Bildmaterial und Spektren.

05 — Anwendungen

Wo unsere Analytik Klarheit schafft

06 — Kontakt

Sprechen wir über Ihre Probe